本發(fā)明提供一種基于太赫茲光譜技術(shù)的熱障涂層中CMAS的檢測(cè)方法,包括:制備一組未受CMAS腐蝕的和N組受CMAS腐蝕程度不同的熱障涂層試樣,N至少為2且N為正整數(shù);選取其中一組熱障涂層試樣進(jìn)行太赫茲光譜測(cè)試;計(jì)算熱障涂層試樣在太赫茲頻段的光學(xué)特征參數(shù);對(duì)其余熱障涂層試樣重復(fù)上述步驟,分析未受CMAS腐蝕的和受CMAS腐蝕程度不同的熱障涂層試樣在太赫茲頻段的光學(xué)特征參數(shù)的變化規(guī)律;對(duì)待測(cè)樣品重復(fù)上述步驟,并根據(jù)變化規(guī)律判斷待測(cè)樣品是否受CMAS腐蝕及腐蝕程度。本發(fā)明可以實(shí)現(xiàn)對(duì)熱障涂層中CMAS的高效無損檢測(cè),具有不破壞和污染樣品,數(shù)據(jù)處理過程簡(jiǎn)便,檢測(cè)結(jié)果精度高及檢測(cè)過程無輻射對(duì)人體安全等優(yōu)點(diǎn)。
聲明:
“基于太赫茲光譜技術(shù)的熱障涂層中CMAS的檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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