本發(fā)明提供了一種檢測或比較高分子聚合材料力學(xué)強度的方法。所述檢測方法包括:測定多個樣品中的每個樣品的力學(xué)強度和熒光吸收光譜的最大值,形成熒光吸收光譜的最大值與力學(xué)強度的曲線關(guān)系或函數(shù)關(guān)系;測量待測目標(biāo)材料的熒光吸收光譜的最大值,利用所述曲線關(guān)系或函數(shù)關(guān)系對應(yīng)得出該待測目標(biāo)材料的力學(xué)強度。其中,所述多個樣品和待測目標(biāo)材料均由高分子聚合物構(gòu)成,所述高分子聚合物以二磺酸二氟二苯甲酮、羥基吲哚和二氟二苯甲酮為單體,且所述二磺酸二氟二苯甲酮的磺酸基上存在金屬陽離子。本發(fā)明能夠通過熒光無損探測的方式實現(xiàn)對高分子聚合材料力學(xué)性能的檢測。
聲明:
“檢測或比較高分子聚合材料力學(xué)強度的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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