本實(shí)用新型公開了一種自由曲面檢測(cè)系統(tǒng),其涉及光學(xué)面檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。旨在解決現(xiàn)有透明光學(xué)產(chǎn)品采用有損檢測(cè)方式只能抽樣檢測(cè),不能全檢,而且成本高,效率低的問題。其技術(shù)方案要點(diǎn)包括光源發(fā)射端和光源接收端,以及用于承載產(chǎn)品的容器;所述容器內(nèi)設(shè)置有液體,且其內(nèi)底壁設(shè)置有吸光裝置。本實(shí)用新型屬于無損處理檢測(cè),檢測(cè)完成后透明光學(xué)產(chǎn)品還可以繼續(xù)使用,可以對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行抽樣檢測(cè)或者全檢測(cè),而且成本低,效率高。
聲明:
“自由曲面檢測(cè)系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)