本發(fā)明涉及一種半導(dǎo)體激光器參數(shù)測(cè)試和可靠性分析的方法及裝置。該裝置主要由微機(jī)(1)、樣品箱(3)、數(shù)據(jù)采集板(4)、電流電壓轉(zhuǎn)換電路(7)、光電探測(cè)器(30)、電壓電流轉(zhuǎn)換電路(10)及信號(hào)源(11)和鎖相放大器(8)等構(gòu)成。通過對(duì)器件(29)電導(dǎo)數(shù)曲線、熱阻、功率及變溫曲線等的測(cè)試,用測(cè)得的參數(shù)對(duì)器件進(jìn)行可靠性分析。本發(fā)明具有微機(jī)化、自動(dòng)化、加溫均勻、一次逐個(gè)檢測(cè)多個(gè)器件等特點(diǎn),實(shí)現(xiàn)對(duì)器件可靠性無損、快速、簡(jiǎn)便的檢測(cè)和分析。
聲明:
“半導(dǎo)體激光器可靠性檢測(cè)分析方法及其裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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