一種基于斜入射超聲合成孔徑聚焦的厚壁結(jié)構(gòu)缺陷檢測(cè)方法,屬于無(wú)損檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。該方法采用一套包括相控陣超聲探傷儀、相控陣超聲探頭和傾斜有機(jī)玻璃楔塊的超聲檢測(cè)系統(tǒng),利用相控陣電子掃查功能對(duì)厚壁結(jié)構(gòu)試塊進(jìn)行檢測(cè),獲得各相控陣陣元的A掃信號(hào)集合。利用費(fèi)馬定理求解各相控陣陣元與圖像重建點(diǎn)在楔塊/試塊界面處的出射點(diǎn)位置,并對(duì)各A掃信號(hào)進(jìn)行時(shí)間延遲和幅值疊加處理。對(duì)處理后的A掃信號(hào)進(jìn)行希爾伯特變換,利用差值函數(shù)獲得重建后的超聲檢測(cè)B掃圖像。該方法的缺陷檢測(cè)分辨力高,檢測(cè)范圍大,可提高檢測(cè)效率,為厚壁結(jié)構(gòu)缺陷的無(wú)損檢測(cè)問(wèn)題提供有效解決方法。該方法還可嵌入到探傷儀中,實(shí)現(xiàn)自動(dòng)實(shí)時(shí)成像,具有較高的工程應(yīng)用價(jià)值。
聲明:
“基于斜入射超聲合成孔徑聚焦的厚壁結(jié)構(gòu)缺陷檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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