本發(fā)明涉及光學(xué)材料,屬于光學(xué)材料加工領(lǐng)域。一種無損尋找石英晶體光軸方向的方法,首先向石英晶體入射紅外光,測定反射光頻率;然后調(diào)整入射紅外光頻率,使之在850cm
?1~750cm
?1范圍掃描;然后360度范圍內(nèi)調(diào)整石英晶體的方向,直至反射光譜由雙峰轉(zhuǎn)換為單峰,即確定入射紅外光與反射紅外光之間的中線方向即為光軸方向。該方法能夠迅速確定晶體的光軸方向。同時相比于現(xiàn)有光學(xué)打磨肉眼識別技術(shù),本技術(shù)能夠適用于各種表面形貌的石英晶體,而且無需對樣品進行處理,所有樣品均可上機測試。與當(dāng)前國內(nèi)外同類技術(shù)相比,本方法效率高、成本低、無毒環(huán)保、操作方便,突破了傳統(tǒng)的方法,且適用于大小不同、表明形貌各異的石英樣品。
聲明:
“無損尋找石英晶體光軸方向的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)