本發(fā)明公開了一種適用于集成電路測試的測試向量無損壓縮方法,包括如下步驟:將測試向量集劃分為一個個游程分段,形成初始游程集;針對初始游程集中只包含確定位的游程的長度值進行聚類分析,獲得N個參考值;根據(jù)N個參考值和與無關位相鄰的確定位對無關位進行賦值,形成游程集;根據(jù)參考值設計代碼字;將游程集中的游程與N個參考值分別作差,取絕對值最小的值作為相對游程,并根據(jù)代碼字的設計方式,完成對該游程的編碼,獲得相對游程編碼;依次完成游程集中所有游程的編碼,將獲取的參考值與相對游程編碼作為壓縮后的測試向量集存儲到測試設備中,以備完成具體的測試需求。本發(fā)明所公開的方法能夠獲得更好的壓縮效果,具有更廣泛的適用范圍。
聲明:
“適用于集成電路測試的測試向量無損壓縮方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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