本發(fā)明公開(kāi)了一種對(duì)渦輪盤(pán)應(yīng)用雙線性陣列換能器進(jìn)行的無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)及方法,檢測(cè)系統(tǒng)運(yùn)用存儲(chǔ)有Space-Defect方法的計(jì)算機(jī)對(duì)雙線性陣列換能器采集得到的超聲回波數(shù)據(jù)形成的圖像進(jìn)行處理,從而獲得被測(cè)對(duì)象上的缺陷-成像點(diǎn)。本發(fā)明采用Space-Defect方法解決了常規(guī)相控陣不容易解決的小于半波長(zhǎng)微小缺陷特征,Space-Defect方法能夠高精度自動(dòng)識(shí)別,以及復(fù)雜結(jié)構(gòu)試件的高精度成像,為航空高溫合金盤(pán)的擴(kuò)散焊面積型缺陷的檢測(cè)提供了新途徑。
聲明:
“對(duì)渦輪盤(pán)應(yīng)用雙線性陣列換能器進(jìn)行的無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)及方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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