本發(fā)明公開了一種無損預(yù)制構(gòu)件內(nèi)部缺陷檢測方法及系統(tǒng);所述方法,包括:獲取探測掃描圖像;其中,所述探測掃描圖像是由雷達(dá)主機(jī)向被測預(yù)制構(gòu)件發(fā)射寬帶窄脈沖信號(hào),并對(duì)回波信號(hào)進(jìn)行同步采集得到的;基于標(biāo)準(zhǔn)預(yù)制構(gòu)件的標(biāo)準(zhǔn)掃描圖像,對(duì)探測掃描圖像進(jìn)行對(duì)齊操作;對(duì)對(duì)齊操作處理后的探測掃描圖像進(jìn)行去噪處理;對(duì)去噪后的探測掃描圖像,采用訓(xùn)練后的缺陷檢測網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行缺陷類型檢測和缺陷區(qū)域標(biāo)注,實(shí)現(xiàn)功耗和輻射降低的效果。
聲明:
“無損預(yù)制構(gòu)件內(nèi)部缺陷檢測方法與系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)