本發(fā)明公開了一種蘋果硬度無損檢測方法。用各種蘋果樣品構(gòu)建蘋果硬度?近紅外光譜數(shù)據(jù)庫;選取能夠有效預(yù)測蘋果硬度的近紅外光譜波段;獲取基于數(shù)據(jù)庫中光譜數(shù)據(jù)與硬度數(shù)據(jù)的偏最小二乘回歸模型的權(quán)重矩陣、載荷矩陣及得分矩陣;采集待測樣品的光譜數(shù)據(jù);根據(jù)已知權(quán)重矩陣及載荷矩陣計(jì)算獲取待測樣品的得分矩陣;在已知樣品的得分矩陣的得分空間中,選取與待測樣品的得分矩陣馬氏距離最近的已知樣品;構(gòu)建以被選取的已知樣品為訓(xùn)練集的偏最小二乘回歸模型,用以預(yù)測待測樣品的硬度。本發(fā)明能夠提高硬度的檢測精度,提升應(yīng)對樣品多樣性時(shí)的穩(wěn)健性,無需頻繁重建模型或更新模型,具有良好的產(chǎn)業(yè)應(yīng)用價(jià)值。
聲明:
“蘋果硬度無損檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)