本發(fā)明涉及一種用于容器內(nèi)壁粘接質(zhì)量檢測的基于成像光纖束的剪切散斑技術(shù)。該方法利用一根保偏導(dǎo)光光纖和一根成像光纖束以及現(xiàn)有的邁克爾遜干涉儀,即實現(xiàn)了對容器內(nèi)部粘接結(jié)構(gòu)的粘接質(zhì)量檢測,解決了傳統(tǒng)剪切散斑技術(shù)無法對該類型結(jié)構(gòu)進行檢測的問題。同時該技術(shù)突破了傳統(tǒng)邁克爾遜光路對檢測面積的限制,提高了剪切散斑技術(shù)的單次有效檢測面積,使該技術(shù)即使在較短的工作距離下,也可進行快速大面積無損檢測。
聲明:
“基于剪切散斑干涉的容器內(nèi)壁粘接質(zhì)量無損檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)