本實用新型公開一種B型套袖相控陣無損檢測校準用試塊,包括:自上而下依次連接的第一階梯、第二階梯以及第三階梯,第一階梯與第一頂面相鄰的側(cè)面設有第一列缺陷組,第二階梯的頂面設有第二列缺陷組;第一列缺陷組,包括多個第一缺陷,多個第一缺陷間隔設置且沿第一斜向預設角排列;第二列缺陷組,包括多個第二缺陷,多個第二缺陷間隔設置且沿第二斜向預設角排列;其中,第一列缺陷組與第二列缺陷組錯開排列。B型套袖相控陣無損檢測校準用試塊采用均傾斜設置的第一列缺陷組和第二列缺陷組,不僅可模擬B型套袖焊接接頭的各種實際缺陷,同時也避免各個缺陷之間干擾,從而可極大提高超聲波相控陣檢測的精確度和準確性。
聲明:
“B型套袖相控陣無損檢測校準用試塊” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)