本發(fā)明涉及一種基于導電參數(shù)無損檢測導電材料質(zhì)量的方法及裝置,屬于無損檢測技術(shù)領(lǐng)域。所述方法為:檢測時,檢測裝置和檢測材料有相對運動,通過連續(xù)采集信息和計算導電參數(shù)來判定所測導電材料的質(zhì)量;所述信息包括但不限于電壓、電流、位置,所述信息是連續(xù)信息;所述導電參數(shù)包括電導率和/或?qū)щ娐?,由連續(xù)采集到的電壓信息和所測區(qū)間材料的尺寸信息計算得到;將所獲實際導電參數(shù)與標準導電參數(shù)進行比對,當|實際導電參數(shù)?標準導電參數(shù)|/標準導電參數(shù)大于等于缺陷判斷閾值時,判定所述實際導電參數(shù)對應區(qū)域存在缺陷,當|實際導電參數(shù)?標準導電參數(shù)|/標準導電參數(shù)小于缺陷判斷閾值時,則判定所述實際導電參數(shù)對應區(qū)域質(zhì)量合格。
聲明:
“基于導電參數(shù)無損檢測導電材料質(zhì)量的方法及裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)