一種SERS拉曼
芯片單色透過光強(qiáng)定標(biāo)無損質(zhì)檢方法與設(shè)備,所述方法是,采用單色光源透過光強(qiáng)(HSP)間接表征定標(biāo)樣品拉曼峰高(HRS)的“HSP~HRS”定標(biāo)無損質(zhì)檢測(cè)技術(shù):一,選一組不同靈敏度定標(biāo)拉曼芯片,在紫外可見光源的消光透過光譜曲線中,找出消光光譜?SPR主峰峰位、?SPR次峰峰位、?與SPR效應(yīng)敏感的其它適用單色光的峰位;或通過數(shù)值模擬找出上述三類峰位;二,在所述三類峰位中優(yōu)選其一,相繼檢測(cè)所述定標(biāo)拉曼芯片組的單色光源的HSP和HRS;三,創(chuàng)建“HSP~HRS”定標(biāo)曲線;四,在所述單色透過光強(qiáng)HSP~HRS定標(biāo)設(shè)備上,實(shí)施所述拉曼芯片無損檢測(cè),解決SERS拉曼芯片靈敏度質(zhì)量無損檢測(cè)問題。
聲明:
“SERS拉曼芯片靈敏度用單色透過光強(qiáng)定標(biāo)無損檢測(cè)方法與設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)