本發(fā)明涉及無(wú)損檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,且公開(kāi)了一種管狀工件內(nèi)部缺陷無(wú)損檢測(cè)方法。該管狀工件內(nèi)部缺陷無(wú)損檢測(cè)方法,包括以下步驟:接收委托單;設(shè)備準(zhǔn)備;膠片、鉛字、像質(zhì)計(jì)準(zhǔn)備;透照方式選擇;曝光參數(shù)選擇;暗室處理;底片評(píng)定、完成報(bào)告。該管狀工件內(nèi)部缺陷無(wú)損檢測(cè)方法,給出了射線(xiàn)檢測(cè)法檢測(cè)管狀工件內(nèi)部缺陷的具體步驟,并給出了透光方式的選擇方法以及曝光參數(shù)的選擇公式,可順利的完成對(duì)管狀內(nèi)部缺陷的檢測(cè),且相較于現(xiàn)有技術(shù)中磁粉檢測(cè)法所存在的高局限性等缺陷,本發(fā)明的射線(xiàn)檢測(cè)法應(yīng)用范圍廣泛、定性準(zhǔn)確,并有可供長(zhǎng)期保存的直觀(guān)圖像,提高了管狀工件內(nèi)部缺陷檢測(cè)的準(zhǔn)確性。
聲明:
“管狀工件內(nèi)部缺陷無(wú)損檢測(cè)方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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