本發(fā)明公開了一種中子無損檢測系統(tǒng),屬于射線無損檢測領域。本系統(tǒng)包括一中子源、測試樣品放置裝置、成像裝置、圖像處理單元;所述中子源與所述成像裝置位于所述測試樣品放置裝置的同一側或所述測試樣品放置裝置相對的兩側;其中所述成像裝置包括光闌和熱中子位置靈敏探測器,所述光闌位于所述測試樣品放置裝置與所述熱中子位置靈敏探測器之間,所述熱中子位置靈敏探測器經(jīng)數(shù)據(jù)線與所述圖像處理單元連接。與現(xiàn)有技術相比,本發(fā)明可以實現(xiàn)厚樣品高分辨率高反差靈敏度的無損檢測,成像系統(tǒng)位置靈活可調,能實現(xiàn)單次照射大范圍檢測,并且方便實際應用。
聲明:
“中子無損檢測系統(tǒng)” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)