本發(fā)明公開了一種運用紅外相機檢測部件內(nèi)部接觸熱阻的無損檢測方法,目的是為測量EAST(Experimental?Advanced?Superconducting?Tokamak)托卡馬克裝置低熱負荷區(qū)域面對等離子體的部件內(nèi)部零件間的接觸熱阻。本發(fā)明方法通過紅外測溫技術(shù)拍攝實驗件外表面得到其溫度隨時間的演變過程,并基于有限元瞬態(tài)熱分析方法對實驗件的換熱過程進行數(shù)值模擬,將不同接觸熱阻條件下的數(shù)值仿真結(jié)果與實驗結(jié)果進行對比,兩者結(jié)果大體相同時對應(yīng)的接觸熱阻即為此部件內(nèi)部接觸熱阻。本發(fā)明可以對具有冷卻結(jié)構(gòu)的部件內(nèi)部零件間的接觸熱阻進行無損測量,提高了接觸熱阻測量的精度。
聲明:
“運用紅外相機檢測部件內(nèi)部接觸熱阻的無損檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)