射線(xiàn)檢測(cè)系統(tǒng)以及利用射線(xiàn)進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)物體的方法:該檢測(cè)系統(tǒng)包括:輻射源,用于發(fā)射掃描射線(xiàn);探測(cè)器陣列,沿水平方向與所述輻射源隔開(kāi)并相對(duì)于所述輻射源固定安裝,用于接收由所述輻射源發(fā)射的射線(xiàn);軌道,在所述輻射源與所述探測(cè)器陣列之間穿過(guò);運(yùn)載器,用于承載被檢測(cè)物體,并可在所述軌道上往復(fù)運(yùn)動(dòng);和導(dǎo)軌平移裝置,與所述軌道配合設(shè)置,能夠使所述運(yùn)載器脫離所述軌道來(lái)與所述導(dǎo)軌平移裝置接合,并且可以按照所需方式調(diào)節(jié)所述運(yùn)載器在所述輻射源與所述探測(cè)器陣列之間的運(yùn)動(dòng)。本發(fā)明通過(guò)合理設(shè)計(jì)流程可實(shí)現(xiàn)流水作業(yè),從而大大提高檢測(cè)效率。另外,本發(fā)明尤其可以對(duì)被檢測(cè)物體的重點(diǎn)部位進(jìn)行CT斷層掃描,從而對(duì)內(nèi)部缺陷做出準(zhǔn)確判斷。
聲明:
“射線(xiàn)檢測(cè)系統(tǒng)以及利用射線(xiàn)進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)物體的方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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