本發(fā)明涉及無損檢測技術(shù)領(lǐng)域,具體公開了一種X射線無損檢測設(shè)備及檢測方法,該X射線無損檢測設(shè)備的鉛房內(nèi)形成檢測空間,輸送機構(gòu)設(shè)置在鉛房內(nèi),輸送機構(gòu)將放置有待檢測工件的載物臺從鉛房一側(cè)的第一送料口處移動至檢測工位,光管組件的射線源能夠向待檢測工件發(fā)送X射線,探測器安裝在移動機構(gòu)上,移動機構(gòu)固定在鉛房頂部的內(nèi)側(cè)。本發(fā)明通過移動機構(gòu)帶動探測器到達檢測空間內(nèi)的任意位置,保證探測器始終對焦于光管組件的射線源的焦點。本發(fā)明還提供一種X射線無損檢測設(shè)備的檢測方法,應(yīng)用上述的X射線無損檢測設(shè)備對待檢測工件進行無損檢測,功能全面,操作簡單,實現(xiàn)了多方位、全角度的檢測,檢測效率高。
聲明:
“X射線無損檢測設(shè)備及檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)