本實(shí)用新型屬于化學(xué)成分分析技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種直讀光譜儀用小接觸面不規(guī)則樣品支架,該支架采用0.5mm厚的不銹鋼帶作為支架材料,選擇60mm邊長(zhǎng)的正六邊形作為支架基本形狀,該正六邊形內(nèi)的不同位置分別鉆有直徑為6mm,8mm,10mm,12mm,14mm的五個(gè)孔作為與樣品的接觸孔,其中10mm孔的圓心位于正六邊形的中心,6mm孔的圓心與12mm孔的圓心分別位于六邊形兩頂點(diǎn)連線的三等分點(diǎn)上,8mm孔的圓心與14mm孔的圓心分別位于六邊形兩頂點(diǎn)連線的三等分點(diǎn)上,所述的六邊形兩頂點(diǎn)之間僅相隔一個(gè)頂點(diǎn)。本實(shí)用新型解決了接觸面積小形狀不規(guī)則的金屬樣品無(wú)法直接用直讀光譜儀直接分析的問題,為殘樣的故障分析提供了技術(shù)支持。
聲明:
“直讀光譜儀用小接觸面不規(guī)則樣品支架” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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