本發(fā)明涉及一種基于分子層面的巖石微觀結(jié)構(gòu)和性質(zhì)的研究方法,包括以下步驟:先通過X射線衍射試驗獲得巖石的主要礦物成分,從而獲得巖石主要礦物成分的晶體結(jié)構(gòu);然后計算主要礦物晶體的化學(xué)鍵參數(shù)并對計算結(jié)果進行分析和驗證,計算礦物晶體的彈性參數(shù)并對計算結(jié)果進行分析和驗證;再根據(jù)礦物晶體化學(xué)鍵和彈性參數(shù)進行相關(guān)性分析。本發(fā)明提供的研究方法從分子層面研究巖石的微觀特性,為揭示巖石宏觀物理力學(xué)性質(zhì)的微觀本質(zhì)機理提供理論依據(jù)。研究結(jié)果不僅為巖石工程、邊坡加固工程提供理論支撐,同時對石質(zhì)文物保護具有重要意義。
聲明:
“基于分子層面的巖石微觀結(jié)構(gòu)和性質(zhì)的研究方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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