本發(fā)明涉及無機微粒,該微粒包含至少兩種呈預(yù)先規(guī)定的并可分析鑒別的比例的化學元素。該微粒用作標記方法加入到任何所需的制品中或涂敷其上,它們具有高的防偽安全潛能,因為分析取決于空間和化學信息。第一步驟中,包含信息的微粒必須被掃描電子顯微鏡定域,在第二步驟中,用能量散射或波長-散射X-射線分析法(SEM/EDX)分析。
聲明:
“無機微粒的應(yīng)用及標記和識別基片或制品的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)