本發(fā)明公開(kāi)了一種基于陣列線激光的SICM掃描系統(tǒng)及方法,陣列線激光發(fā)射源和CCD感光相機(jī)分別設(shè)置于
電化學(xué)池的兩側(cè),陣列線激光發(fā)射源生成的激光束從電化學(xué)池穿過(guò)打到CCD感光相機(jī)上,能快速調(diào)整電化學(xué)池內(nèi)待測(cè)掃描樣的高度,利用激光束確定玻璃探針管的高度,能快速地確定掃描離子電導(dǎo)顯微鏡在跳躍掃描模式下的最高點(diǎn)跳躍位置,很大程度上提高樣本掃描的效率,減小掃描的時(shí)間成本;通過(guò)圖像處理單元對(duì)陣列線激光的成像進(jìn)行處理和分析后,將結(jié)反饋接硬件系統(tǒng)控制器,得到樣本的最高點(diǎn)位置,這一閉環(huán)反饋系統(tǒng)很大程度上優(yōu)化了傳統(tǒng)樣本掃描的過(guò)程,不僅在樣本掃描上節(jié)約率時(shí)間成本,而且在生命科學(xué)領(lǐng)域,對(duì)細(xì)胞藥理反應(yīng)形貌變化的捕捉上有很大作用和意義。
聲明:
“基于陣列線激光的SICM掃描系統(tǒng)及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)