本發(fā)明公開了一種基于光纖光譜技術(shù)的蘋果表面早期損傷快速無損識別方法,該方法包括以下步驟:收集完好無損和表面有輕微損傷蘋果樣本隨機(jī)分配,建立校正樣本集和檢驗(yàn)樣本集;利用光譜采集系統(tǒng)采集校正樣本集和檢驗(yàn)樣本集中蘋果樣本的光譜反射率,得到校正和檢驗(yàn)樣本集原始光譜數(shù)據(jù);采用標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)變換(SNV)對原始光譜數(shù)據(jù)進(jìn)行預(yù)處理,并利用主成分分析方法對預(yù)處理后的光譜數(shù)據(jù)進(jìn)行降維,以提取能反映蘋果表面早期損傷的特征光譜,建立校正和檢驗(yàn)樣本集特征數(shù)據(jù)庫;最后,利用簡化的K最近鄰(SKNN)模式識別方法,建立蘋果表面早期損傷的識別模型。本發(fā)明基于光纖光譜技術(shù)結(jié)合化學(xué)計(jì)量學(xué),可快速、無損識別出表面有輕微損傷的蘋果。
聲明:
“基于光纖光譜技術(shù)的蘋果表面早期損傷快速無損識別方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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