一種用于測定試樣中元素含量、化學態(tài)及元素含量在樣品中的分布的位置靈敏X射線譜儀,由X光源、樣品、平面晶體、位置靈敏探測器及相應電子學系統(tǒng)和計算機多道分析系統(tǒng)等組成。在X光源和樣品之間加有一整體會聚X光透鏡,在樣品和平面晶體之間加有一一維平行X光聚束系統(tǒng)。本發(fā)明的分析靈敏度高、探測極限低、功率密度大、能量分辨率高,可作全元素含量分析、元素存在的化學態(tài)及微區(qū)分布分析,且結構簡單、造價低。
聲明:
“使用整體X光透鏡的位置靈敏X射線譜儀” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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