本發(fā)明提供了一種電連接器鍍金層孔隙率測(cè)試方法,包括以下步驟:(1)清理樣品表面;(2)將樣品掛裝在密閉容器中;(3)配制次氯酸鈉溶液及酸液,并混合倒入密閉容器中與樣品共同封閉靜置30-50分鐘,混合溶液液面低于樣品,密閉容器內(nèi)溫度為21-25攝氏度;(4)樣品烘干;(5)觀察樣品表面,根據(jù)觀察到的每個(gè)腐蝕物尺寸換算成腐蝕點(diǎn)個(gè)數(shù),然后累計(jì)測(cè)試區(qū)域所有腐蝕點(diǎn)個(gè)數(shù),并根據(jù)總腐蝕點(diǎn)個(gè)數(shù)及樣品測(cè)試面積計(jì)算孔隙率。本發(fā)明采用在密閉容器中混合次氯酸鈉溶液及酸液,揮發(fā)氣體與樣品進(jìn)行化學(xué)反應(yīng),并合理控制時(shí)間、空間,從而簡(jiǎn)單、便捷且準(zhǔn)確地獲得孔隙率,本發(fā)明測(cè)試過(guò)程在密閉容器中完成,且測(cè)試介質(zhì)無(wú)毒害,非常環(huán)保安全。
聲明:
“電連接器鍍金層孔隙率測(cè)試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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