本發(fā)明提供一種質(zhì)子交換膜高溫電導(dǎo)率的測(cè)試裝置和方法。所述測(cè)試裝置包括兩個(gè)支架、兩個(gè)電極和用于測(cè)量阻抗的
電化學(xué)工作站,所述兩個(gè)支架通過連接構(gòu)件相互連接,其中一個(gè)用于支撐待測(cè)的質(zhì)子交換膜,并且其中另一個(gè)用于固定所述兩個(gè)電極,所述兩個(gè)電極的一端與待測(cè)的質(zhì)子交換膜接觸,而另一端與所述電化學(xué)工作站電連接,其特征在于,所述測(cè)試裝置還包括:密閉容器,其中容納所述兩個(gè)支架、所述待測(cè)的質(zhì)子交換膜、所述兩個(gè)電極以及水,以在加熱時(shí)將所述待測(cè)的質(zhì)子交換膜置于測(cè)試溫度和飽和濕度下的水蒸汽中;用于加熱所述密閉容器的加熱器;和用于測(cè)量所述待測(cè)的質(zhì)子交換膜的測(cè)試溫度的熱電偶。
聲明:
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