通過圖案化步驟、物理處理步驟和化學處理步驟的組合,在襯底上形成多層產(chǎn)品結(jié)構(gòu)。檢查設備照射多個目標結(jié)構(gòu)并捕獲表示由每個目標結(jié)構(gòu)散射的輻射的角度分布的光瞳圖像(802)。目標結(jié)構(gòu)具有相同的設計,但是被形成在不同襯底上和/或在襯底上的不同位置處?;趫D像的比較(810),檢查設備推斷在所述不同位置之間的過程引起的堆疊變化的存在。在一個應用中,檢查設備基于暗場圖像(840)并結(jié)合先前確定的校準信息(842a,842b)分開測量制造過程的重疊性能(OV)。取決于從光瞳圖像推斷的堆疊變化,針對每個目標調(diào)整校準。
聲明:
“用于監(jiān)測制造過程的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)