本發(fā)明屬于化學(xué)物質(zhì)檢測技術(shù)領(lǐng)域,涉及一種共焦分立熒光光譜及熒光壽命探測方法與裝置。該方法將共焦物體表面定位技術(shù)和分立熒光光譜和熒光壽命測量技術(shù)相融合;利用共焦技術(shù)解決待測樣品表面三維形貌的高精度測量,同時利用分立熒光光譜及熒光壽命探測技術(shù)解決待測樣品表面各點(diǎn)的熒光光譜及熒光壽命的高靈敏度檢測,進(jìn)而得到三維高分辨空間物質(zhì)成分分布信息。本發(fā)明首次將共焦測量技術(shù)和分立熒光物質(zhì)成分探測技術(shù)相融合,保證熒光成像系統(tǒng)在待測樣品表面每一個位置都具有相同的橫向分辨率,并最終將測得的熒光光譜分布和三維形貌進(jìn)行精確的對應(yīng)。此技術(shù)在生物學(xué),醫(yī)學(xué),材料科學(xué)以及臨床醫(yī)學(xué)診斷領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用前景。
聲明:
“共焦分立熒光光譜及熒光壽命探測方法與裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)