通過監(jiān)測點(diǎn)蝕研究金屬應(yīng)力腐蝕動(dòng)態(tài)過程的裝置,包括工作電極A、參比電極、輔助電極、工作電極B、三維控位儀、
電化學(xué)分析儀和電解池。工作電極A為發(fā)生應(yīng)力腐蝕的被拉伸薄片金屬試樣。本發(fā)明能夠?qū)Πl(fā)生應(yīng)力腐蝕的金屬表面進(jìn)行連續(xù)面掃描,實(shí)時(shí)原位監(jiān)測金屬/電解質(zhì)界面微區(qū)點(diǎn)蝕的動(dòng)態(tài)變化;本發(fā)明將SECM的水平面掃描方式改為垂直面掃描方式,大大減少了腐蝕產(chǎn)物在金屬表面的沉積,所得氧化電流值更能確切地反映金屬表面的微區(qū)電化學(xué)信息、更能真實(shí)地呈現(xiàn)金屬表面點(diǎn)蝕發(fā)展變化時(shí)的動(dòng)態(tài)過程。
聲明:
“通過監(jiān)測點(diǎn)蝕研究金屬應(yīng)力腐蝕動(dòng)態(tài)過程的方法與裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)