本發(fā)明涉及一種可用于鐵離子高選擇性檢測(cè)的新型熒光探針制備和應(yīng)用,屬于分析化學(xué)技術(shù)領(lǐng)域,其化學(xué)結(jié)構(gòu)如式(I)所示。本發(fā)明熒光分子探針含有C=N雙鍵,在受光激發(fā)的情況下會(huì)導(dǎo)致雙鍵順?lè)串悩?gòu)化,導(dǎo)致熒光量子產(chǎn)率降低,探針在483 nm處無(wú)熒光發(fā)射。而當(dāng)Fe
3+與探針?lè)磻?yīng)后,阻止了C=N雙鍵的翻轉(zhuǎn),整個(gè)分子的剛性增加,483 nm處熒光顯著增強(qiáng),從而實(shí)現(xiàn)了探針對(duì)Fe
3+的高選擇性識(shí)別檢測(cè)。此外,本發(fā)明的熒光探針還可用于環(huán)境和活細(xì)胞等不同體系中的鐵離子的檢測(cè),具有很好的應(yīng)用前景。
式(I)。
聲明:
“基于分子異構(gòu)化機(jī)理的可用于鐵離子特異性檢測(cè)的新型熒光探針的制備方法及應(yīng)用” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)