本發(fā)明涉及降低分析物的測量中干擾化合物的影響的方法,更具體來說,涉及降低系統(tǒng)中干擾化合物的影響的方法,其中測試條(600)使用兩個(gè)或更多個(gè)工作電極(12,14)。在本發(fā)明中,給第一個(gè)工作電極(12)施加第一個(gè)電位(E1),給第二個(gè)工作電極(14)施加具有相同極性但是比第一個(gè)電位(E1)大的第二個(gè)電位(E2)。
聲明:
“使用兩個(gè)不同的施加的電位來降低電化學(xué)傳感器中的干擾的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)