本發(fā)明涉及電化學(xué)分析測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種通過(guò)溶膠法印跡天冬氨酸光學(xué)異構(gòu)體(如L-Asp)、銅離子和N-芐氧羰基(CBZ)-L-天冬氨酸(L-Asp)三元絡(luò)合物的方法，將該溶膠修飾于電極，通過(guò)在電極上構(gòu)筑具有L-Asp-Cu2+-N-CBZ-L-Asp空間結(jié)構(gòu)，由于N-CBZ-L-Asp上苯環(huán)與D-Asp上羧基的空間位阻，在水溶液中L-Asp-Cu2+-N-CBZ-L-Asp三元絡(luò)合物的穩(wěn)定性大于D-Asp-Cu2+-N-CBZ-L-Asp三元絡(luò)合物，印跡電極在溶液中對(duì)L-Asp-Cu2+-N-CBZ-L-Asp三元絡(luò)合物的吸附量遠(yuǎn)大于對(duì)D-Asp-Cu2+-N-CBZ-L-Asp，進(jìn)而導(dǎo)致印跡電極中銅離子的濃度不同，以銅離子為探針，通過(guò)銅離子的還原電流的測(cè)量，實(shí)現(xiàn)對(duì)天冬氨酸光學(xué)異構(gòu)體的選擇性識(shí)別。