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色譜質譜分析用數據解析裝置

739   編輯:管理員   來源:中冶有色技術網  
2023-03-19 06:54:50
多變量解析運算部(43)分別將由PDA檢測器(2)獲取到的數據中的特定波長rλ1下的色譜數據與由質譜儀(3)重復獲取到的質譜數據進行矩陣化。然后,以基于質譜數據的二維矩陣為解釋變量并以基于色譜數據的一維矩陣為被解釋變量,來執(zhí)行PLS的運算,從而算出回歸系數矩陣。針對每個m/z值得到回歸系數,回歸系數大的m/z值表示特定波長下的色譜波形與提取離子色譜(XIC)類似的m/z值。因此,m/z值提取部(44)將回歸系數與閾值進行比較來提取有意義的m/z值,XIC制作部(46)制作所提取出的m/z值下的XIC。通過事先指定操作員關注的部分化學結構特異性地吸收的波長λ1,不進行基于操作員手動作業(yè)的波形處理,就能夠得到與包含該部分化學結構的分子種對應的XIC。
聲明:
“色譜質譜分析用數據解析裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)
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