本發(fā)明提供一種超輕元素碳的電子探針線分析定量檢驗(yàn)方法,選取多個化學(xué)光譜分析用標(biāo)樣加工制備成10×10mm電子探針線分析用碳標(biāo)準(zhǔn)樣品,利用面掃描模式代替點(diǎn)掃描模式獲取碳的修正曲線,對待測樣品進(jìn)行線掃描分析,再應(yīng)用碳的校正曲線對待測樣品進(jìn)行碳含量定量分析。可解決電子探針原有標(biāo)樣因尺寸小而不能用于大面積分析的難題,減少碳污染和微區(qū)成分不均勻以及電子束移動方式不同而產(chǎn)生的誤差,因此所獲得的修正曲線誤差明顯小于常規(guī)方法,從而保證獲得的碳元素線分析結(jié)果準(zhǔn)確可靠,解決了超輕元素碳的電子探針線分析定量不準(zhǔn)確的問題,為更好地控制生產(chǎn)工藝和提高產(chǎn)品質(zhì)量提供了可靠的數(shù)據(jù)依據(jù)。
聲明:
“超輕元素碳的電子探針線分析定量檢驗(yàn)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)