本發(fā)明提供了一種用于檢測分析物的方法,其中,所述分析物由與該分析物有關(guān)的一個或多個標記物進行標記,所述方法包括:A)在經(jīng)標記的所述分析物上進行光學檢測方法以便從所述一個或多個標記物獲得光學數(shù)據(jù);B)在經(jīng)標記的所述分析物上進行電學檢測方法以便從所述一個或多個標記物獲得電學數(shù)據(jù);和C)由所述光學數(shù)據(jù)和電學數(shù)據(jù)確定所述分析物的身份和/或數(shù)量。本發(fā)明還提供了一種用于檢測多個分析物的方法,其中,各個不同的所述分析物由與該分析物有關(guān)的一個或多個不同標記物進行標記,所述方法包括:A)在多個經(jīng)標記的分析物上進行光學檢測方法以便從所述標記物獲得光學數(shù)據(jù);B)在所述多個經(jīng)標記的分析物上進行
電化學檢測方法以便從所述標記物獲得電學數(shù)據(jù);和C)由所述光學數(shù)據(jù)和電學數(shù)據(jù)確定所述多個分析物的身份和/或數(shù)量。
聲明:
“使用光學和電學測量方法檢測分析物” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)