一種利用離子阱質(zhì)量分析器獲得高準確質(zhì)譜的方法包括:調(diào)整該分析器的工作參數(shù),以啟動質(zhì)量選擇共振射出模式下的反向質(zhì)量掃描;以及,設(shè)定捕獲場以俘獲一個質(zhì)荷比范圍內(nèi)的離子,該范圍具有接近所關(guān)心離子質(zhì)荷比的下限。一種確定化學位移的方法包括:調(diào)整該分析器的工作參數(shù)以啟動正向和反向質(zhì)量掃描;以及,校準從正向和反向質(zhì)量掃描獲得的質(zhì)譜。
聲明:
“利用離子阱質(zhì)量分析器獲得高準確度質(zhì)譜的方法和利用離子阱質(zhì)量分析器確定和 /或減小質(zhì)量分析中化學位移的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)