本發(fā)明公開(kāi)了屬于痕量無(wú)機(jī)污染物檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域的一種利用
電化學(xué)分析快速檢測(cè)痕量過(guò)氧化氫的方法。該方法采用控溫的傾斜生長(zhǎng)法在基底上沉積氮化鈦,得到分立性良好的納米棒陣列薄膜,將這種氮化鈦薄膜作為工作電極,進(jìn)行電化學(xué)測(cè)試可以檢測(cè)出痕量過(guò)氧化氫。通過(guò)對(duì)一系列痕量過(guò)氧化氫標(biāo)準(zhǔn)溶液進(jìn)行測(cè)試,得到標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn),通過(guò)將待測(cè)物質(zhì)的信號(hào)與標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)進(jìn)行比對(duì),可以快速檢測(cè)過(guò)氧化氫濃度。該檢測(cè)方法簡(jiǎn)單,快速,成本低,靈敏度高,在痕量過(guò)氧化氫檢測(cè)方面具有廣泛的應(yīng)用前景。
聲明:
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