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位置:中冶有色 > 有色產(chǎn)品 >
礦山設(shè)備
冶金設(shè)備
材料制備及加工設(shè)備
環(huán)境保護設(shè)備
分析檢測設(shè)備
材料
物理檢測設(shè)備
化學(xué)分析設(shè)備
力學(xué)檢測設(shè)備
無損檢測設(shè)備
失效分析設(shè)備
環(huán)境檢測設(shè)備
> 物理檢測設(shè)備
> JSM-6700F場發(fā)射掃描電子顯微鏡
掃描電子顯微鏡是利用二次電子進行顯微形貌分析的電子顯微分析設(shè)備。JSM-6700F由于采用了冷場發(fā)射電子槍和特殊的物鏡設(shè)計加工技術(shù),因此具有很高的分辨率:1nm/15KV,是微米乃至納米級顯微形貌分析的主要儀器。其主要應(yīng)用于金屬、新材料、半導(dǎo)體以及生物、工業(yè)研究等領(lǐng)域。
標題:JSM-6700F場發(fā)射掃描電子顯微鏡