本發(fā)明提供一種測試AD性能的方法,其過程如下:1)兩臺矢量信號源、PC機(jī)、合路器和被測接收機(jī);將兩臺矢量信號源的輸出端與合路器的輸入端相連,合路器的輸出端與被測接收機(jī)相連,被測接收機(jī)與PC機(jī)相連。2)計(jì)算輸入二階互調(diào)截點(diǎn)值為IIP
2=2P
in?P
s(dBm);3)計(jì)算三階互調(diào)截點(diǎn)值為
4)計(jì)算路間隔離度,其公式為:ACI=P
w0?P
wn(dBm)。本方法可以方便計(jì)算AD
芯片采集模擬信號的二、三階互調(diào)截點(diǎn)、路間隔離度;使得短波超短波等設(shè)備便于性能測試;具有結(jié)構(gòu)簡單、使用方便、測試數(shù)據(jù)準(zhǔn)確等優(yōu)點(diǎn)。
聲明:
“一種測試AD性能的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)