本文提供了一種測(cè)斜儀異常數(shù)據(jù)檢測(cè)方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì),所述方法包括:獲取測(cè)斜儀采集的待測(cè)數(shù)據(jù);將所述待測(cè)數(shù)據(jù)輸入到已訓(xùn)練完成的卷積自編碼器,計(jì)算得到數(shù)據(jù)判別值,所述已訓(xùn)練完成的卷積自編碼器是基于所述測(cè)斜儀的原始樣本數(shù)據(jù)訓(xùn)練得到的,所述原始樣本數(shù)據(jù)全部為正常數(shù)據(jù);當(dāng)所述數(shù)據(jù)判別值大于異常閾值時(shí),確定所述數(shù)據(jù)判別值對(duì)應(yīng)的待測(cè)數(shù)據(jù)為異常數(shù)據(jù),所述異常閾值是根據(jù)已訓(xùn)練完成的卷積編碼器得到的,本文通過原始樣本數(shù)據(jù)訓(xùn)練得到的卷積自編碼器,以及判斷采集數(shù)據(jù)異常的異常閾值,可以獲取采集的待測(cè)數(shù)據(jù)之間的依賴關(guān)系,從而提高異常數(shù)據(jù)檢測(cè)的準(zhǔn)確性。
聲明:
“一種測(cè)斜儀異常數(shù)據(jù)檢測(cè)方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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