本發(fā)明提供了一種相控陣?yán)走_(dá)TR組件自動測試裝置與方法,涉及電子設(shè)備測試技術(shù)領(lǐng)域,通過生成特定的射頻信號控制射頻開關(guān)的導(dǎo)通或關(guān)斷,梳理TR組件射頻信號傳輸路徑,并在射頻開關(guān)矩陣單元的內(nèi)部設(shè)置功率衰減器和負(fù)載,最后由測試儀器通過測試儀器接口單元與相控陣?yán)走_(dá)TR組件自動測試裝置相連,完成對TR組件性能參數(shù)的測試。通過本發(fā)明的技術(shù)方案,提高了檢測TR組件中各器件性能參數(shù)的檢測速率,提高了測試TR組件中各器件性能指標(biāo)的可靠性和準(zhǔn)確性,有利于降低因輸入功率過大而導(dǎo)致測試儀器損壞的可能性。
聲明:
“一種相控陣?yán)走_(dá)TR組件自動測試裝置與方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)