本實用新型公開了一種半導體晶閘管性能測試裝置,包括底座,所述底座上固定設置有背板,所述底座上設有晶閘管,且所述底座上設有與晶閘管對應的固定裝置,所述背板遠離晶閘管的一側側壁上滑動設置有兩塊活動板,兩塊所述活動板均通過滑塊滑動設置在背板上,所述背板上還設有與活動板對應的傳動機構,所述背板上還設有與晶閘管對應的測試機構。本實用新型能夠快速的對晶閘管進行性能檢測,替代了人工檢測的操作,大大提高了檢測效率,且在檢測的過程中有效的保護了晶閘管的引腳,避免了晶閘管引腳受到壓力出現彎折損壞的問題,大大提高了晶閘管的使用壽命。
聲明:
“一種半導體晶閘管性能測試裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯系該技術所有人。
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