本實(shí)用新型公開一種多SITE LCD驅(qū)動(dòng)芯片檢測(cè)裝置，包括上位機(jī)、主控板、電源板和若干設(shè)置有待測(cè)LCD驅(qū)動(dòng)芯片的載板，所述主控板包括可編程邏輯器件、內(nèi)存單元、ADC模塊、模擬開關(guān)矩陣和USB總線芯片，對(duì)上位機(jī)傳輸?shù)目刂菩畔⑦M(jìn)行解析，啟動(dòng)模擬開關(guān)矩陣和ADC模塊進(jìn)行數(shù)據(jù)采集；將ADC模塊轉(zhuǎn)換完成的數(shù)據(jù)根據(jù)內(nèi)存分配存儲(chǔ)到內(nèi)存單元中；將內(nèi)存單元中的數(shù)字電平值進(jìn)行讀取，算法判定，核對(duì)每路波形BIAS與上位機(jī)設(shè)定值的一致性，將結(jié)果上傳至上位機(jī)，判定芯片是否檢測(cè)成功；本實(shí)用新型可同時(shí)控制多SITE LCD驅(qū)動(dòng)芯片進(jìn)行全性能檢測(cè)，使用方便，效率高。