本發(fā)明實施例提供的一種檢測裝置,所述檢測裝置包括電源、電源檢測模塊、主控模塊以及射頻模塊,通過所述電源檢測模塊檢測所述被測LoRa模塊的工作電流,所述主控模塊根據(jù)所述工作電流對所述被測LoRa模塊的功耗進行分析,以檢測所述被測LoRa模塊的功耗是否合格,所述射頻模塊接收所述主控模塊控制所述被測LoRa模塊發(fā)射的射頻信號,所述主控模塊對所述射頻信號進行分析,以檢測所述被測LoRa模塊的射頻性能是否合格,從而可在LoRa模塊的生產(chǎn)過程中對LoRa模塊進行相關(guān)的性能檢測,避免生產(chǎn)出的LoRa模塊質(zhì)檢要求不過關(guān),生產(chǎn)效率低的問題。
聲明:
“檢測裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)