本發(fā)明公開了一種具有過程跟蹤保護的磁開關綜合測試儀及其測試方法,包括控制模塊、顯示模塊、性能測試模塊和樣品檢測模塊,所述顯示模塊的輸入端、性能測試模塊的輸入端和所述控制模塊電連接,所述樣品檢測模塊的輸入端和所述功性能測試模塊的輸出端電連接,所述樣品檢測模塊的輸出端和所述控制模塊電連接。所述具有過程跟蹤保護的磁開關綜合測試儀用于磁開關的性能檢測,可同時對多個磁開關進行檢測,檢測速度快,檢測時耗電功率僅為800W,節(jié)能環(huán)保,自動化程度高,兼容性好,樣品設置完畢,啟動設備即可,無需進行任何過程操作;設備內(nèi)部硬件不需調(diào)整就可實現(xiàn)廣范兼容,其穩(wěn)定性,可靠性高。
聲明:
“一種具有過程跟蹤保護的磁開關綜合測試儀及其測試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)