本發(fā)明涉及鈦白粉應(yīng)用性能檢測技術(shù)，解決了現(xiàn)有基于SEM的鈦白粉粒子的大小分布統(tǒng)計(jì)方法的統(tǒng)計(jì)結(jié)果準(zhǔn)確性和科學(xué)性差的問題。技術(shù)方案概括為：基于SEM的鈦白粉粒子的大小分布統(tǒng)計(jì)方法，包括通過掃描電子顯微鏡拍攝鈦白粉粒子樣本的照片；從照片中測量出預(yù)設(shè)個數(shù)的鈦白粉粒子的長徑；根據(jù)從照片中測量出的所有鈦白粉粒子的長徑，計(jì)算出鈦白粉粒子的平均長徑；根據(jù)計(jì)算出的鈦白粉粒子的平均長徑以及預(yù)設(shè)的鈦白粉粒子的平均長徑范圍所對應(yīng)的鈦白粉粒子大小分布統(tǒng)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)，統(tǒng)計(jì)該鈦白粉粒子樣本的鈦白粉粒子大小分布。有益效果是：本發(fā)明對鈦白粉粒子樣本中的統(tǒng)計(jì)基數(shù)和統(tǒng)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行了量化，最大限度的避免人為誤差，提高了統(tǒng)計(jì)結(jié)果的準(zhǔn)確性和科學(xué)性。