本發(fā)明提出了一種
芯片自動化檢測方法和裝置,所述方法包括:在機(jī)械手將托盤從上料區(qū)移動至下料區(qū)的過程中,進(jìn)行絲印ID檢測、外觀檢測和性能檢測;通過絲印ID檢測進(jìn)行絲印ID的獲取,在性能測試時獲取芯片ID;然后將絲印ID和芯片ID結(jié)合來鎖定具體的芯片,即綁定后的絲印ID和芯片ID可以作為芯片的唯一身份標(biāo)識,從而基于芯片的唯一身份標(biāo)識可以將芯片的外觀檢測結(jié)果和性能測試結(jié)果進(jìn)行整合,便于用戶或檢測管理人員快速了解具體芯片的整體狀況,分類結(jié)果更精準(zhǔn)。
聲明:
“一種芯片自動化檢測方法和裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)