本發(fā)明提供了一種檢測(cè)硬盤IOPS性能的方法及裝置,應(yīng)用于Linux系統(tǒng),該方法包括:確定計(jì)算機(jī)中需要進(jìn)行IOPS性能檢測(cè)的至少一個(gè)目標(biāo)硬盤,并設(shè)定對(duì)各個(gè)所述目標(biāo)硬盤進(jìn)行訪問(wèn)的訪問(wèn)形式;根據(jù)所述訪問(wèn)形式,依次對(duì)各個(gè)所述目標(biāo)硬盤進(jìn)行讀操作或?qū)懖僮?;?duì)所述讀操作或?qū)懖僮鬟^(guò)程進(jìn)行監(jiān)控,形成對(duì)應(yīng)的記錄文件;根據(jù)所述記錄文件,獲取各個(gè)所述目標(biāo)硬盤對(duì)應(yīng)的IOPS數(shù)據(jù)。該裝置包括:設(shè)定單元、檢測(cè)單元、監(jiān)控單元及提取單元。本方案能夠提高對(duì)硬盤IOPS性能進(jìn)行測(cè)試的效率。
聲明:
“一種檢測(cè)硬盤IOPS性能的方法及裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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