本發(fā)明公開了電路性能自動測試系統(tǒng),所述系統(tǒng)包括:固定單元,用于對待測試電路板進行固定;外觀檢測單元,用于對待測試電路板進行外觀檢測;尺寸檢測單元,用于對待測試電路板進行尺寸檢測;電路檢測,用于對待測試電路板進行電路性能檢測;解決了現(xiàn)有的電路性能測試效率較低和成本較高的技術(shù)問題,實現(xiàn)了測試系統(tǒng)設計合理,電路性能測試效率較高成本較低的技術(shù)效果。
聲明:
“電路性能自動測試系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)